中文

势创智能 | EPL检测模组

势创智能 EPL模组可应用于烧结后电池片缺陷检测。安装于烧结后：及时发现电池缺陷，防止连续缺陷产生。安装于效率分选前：无接触检测电池缺陷，替代或补充EL检测。

势创智能 | EPL检测模组

SC-EPL

contact
资料下载

  • Product introduction

  • 势创智能 | EPL检测模组

    势创智能EPL检测模组SC-EPL是集成了EL（电致发光检测）与PL（光致发光检测）双技术的一体化检测设备，可同时实现“不通电状态下的材料/器件本征缺陷检测”和“通电状态下的电性能缺陷检测”，其应用贯穿光伏产品全生命周期，覆盖高校实验室、工业生产制造、企业研发测试等多个核心领域。

    应用领域

    电池制造：电池片是光伏组件的核心发电单元，EPL设备可覆盖电池片生产全流程的在线/离线检测，是电池片分选机的核心配置

    电池组件封闭检测：组件封装后，层压、焊接、接线盒装配等工序易引入新缺陷，EPL设备是串焊虚焊检测的关键设备

    高校、实验室研究测试：在光伏材料和电池技术研发中，EPL设备是性能分析与工艺优化的核心测试工具

    功能介绍

    1.电池生产车间工艺验证

    可以检测掺杂均匀性、边缘过刻/欠刻缺陷、PN结异常区域

    通过EPL检测钝化效果（少子寿命提升幅度）、少子缺陷等；

    EPL可检测栅丝网印刷后电池栅线断栅、虚印、短路，印刷过程中导致的隐裂等缺陷

    2.电池片最终分选

    通过EPL设备拍摄的成像，判断电池片其少子寿命、缺陷分布数据，结合EL的电性能缺陷数据，对电池片进行多维度分级（如A级、B级、降级片），为组件封装提供匹配依据，保障组件功率一致性。

    3.组件封装环节

    针对封装过程中出现的“功率偏低、一致性差”等问题，EPL设备可反向分析电池片来料缺陷、焊接缺陷或层压缺陷，定位工艺瓶颈。

    电池封装层压前检测：通过EL检测电池片隐裂扩展、虚焊/假焊、裂片、热斑前兆，通过EPL检测封装过程中易产生的电池片二次缺陷（如层压压力不均导致的晶格损伤）；

    生产环节检测：结合EL（通电状态）和PL（不通电状态）的双重数据，出具串焊缺陷报告，确保出厂组件无明显缺陷，符合质检出厂标准。

    4.光伏研发领域

    针对不同电池工艺技术，通过EPL检测串阻类缺陷和少子类缺陷，分析材料本征特性；结合EL检测评估材料制成器件后的电性能表现。

    对比不同工艺参数下的电池片EPL检测数据，量化工艺对缺陷的影响，指导工艺参数迭代。

    技术优势

    1.制造环节：全工序缺陷管控与性能分选，实现成品质量闭环与故障精准溯源

    全面覆盖电池片内外部缺陷检测，可精准识别隐裂、黑斑、划伤、脏污、碎角、同心圆、低效率片、杂质污染、串焊虚焊等各类瑕疵，检测范围无遗漏

    检测流程全自动化运行，节拍效率优异，大幅提升产线通行速度

    针对电池片串阻类缺陷的成像效果优于传统EL成像技术，缺陷识别精度更具优势

    采用无接触式检测方案，无需探针机构介入，从根源上避免电池片物理损伤，显著降低碎片率

    兼容各类网版工艺电池片，支持自动适配切换，无需人工干预，有效降低人工成本与耗材损耗

    缺陷与良品数据自动统计功能，可实时呈现各类缺陷占比及良品率，便于工作人员快速开展统计分析

    无缝对接自动化产线，支持实时数据通信，可及时反馈产线异常并触发报警、停机、剔除等联动指令，为工艺优化提供数据支撑，助力良品率提升

    2.软件算法：智能驱动质量管控，提升溯源效率

    集成自研人工智能检测算法，可快速精准设定各类缺陷的识别类型及检出标准，检测准确性与适配性更强

    基于Windows平台开发专属上位机控制软件，实现算法一体化集成，支持一键配置参数，操作逻辑简洁，降低人员操作门槛

    3.其他优势：高兼容性适配多元应用场景

    双向兼容电池生产线与组件生产线，无需额外改造即可接入现有产线

    灵活适配在线、离线两种机台部署模式，满足不同生产流程需求

    全面适配主流高效电池技术，可跟随技术迭代实现快速兼容升级

    采用 RGB 三通道成像方案，生成的彩色图像可清晰呈现目标细节，大幅提升人工分辨的准确性与效率

    技术参数

    参数名称 技术指标
    型号 SC-PLEL-PS
    相机规格 成像：NIR增强型  分辨率：100万像素  曝光时间：10微秒10秒   可响应范围：400nm1200nm
    红外像素 100万像素
    镜头规格 高清广角镜头，焦距（16mm/25mm/45mm多规格选配），视场角≥80°，可选配长焦镜头实现局部放大检测
    光源规格 半导体激光，主波长808±5nm
    光斑均匀性 ≥90%（有效检测区域内）
    曝光周期 200us~1000us（根据检测对象响应时间自定义设置，最小步长1ms）
    检测波长范围 900nm~1300nm（晶硅专用）
    兼容尺寸规格 156mm*156mm~210mm210mm（半片，整片均兼容）
    检测对象 晶硅电池（PERC、TOPCon、HJT、xBC等）；裸片、带膜片、封装组电池均可检测
    可检测缺陷类型 隐裂、断栅、碎片、划伤、虚焊、过刻、黑斑、同心圆、低效率片、杂质污染等
    载物台尺寸 适配自动化轨道（按需定制）
    控制方式 自研上位软件全自动化控制
    检测精度 可检测出裂纹宽度大于50μm
    成像精度 ≥mm/pixel
    对焦模式 手动对焦
    硬件支架 铝合金型、铝合金、金属钣金等
    检测时间 0.5s~2s（根据自动化机台运行速度判断）
    对焦距离 400-650mm
    测试平台 windows平台
    功率 500-1000W
    电源特性保护 逆电流保护，过载保护，漏电保护，静电保护，过热保护
    运算设备 工控计算机
    环境温度 温度15-50℃，相对湿度30%-70%（无凝结）
    设备重量 约20kg（以实物为准）
    外形尺寸 1×1×1mm（长×宽×高，以实物为准）
    供电 单相AC220V±10%，50HZ±1HZ

    应用案例

    检测类型电池工艺 EPL成像 EL成像 成像分析
    偏移 epl-module-01.webp epl-module-02.webp 与 EL 成像能力相当，可精准捕捉串阻类缺陷，成像效果稳定甚至更强，能满足偏移检测的核心需求
    断栅 epl-module-03.webp epl-module-04.webp 采用三通道成像技术，断栅缺陷轮廓清晰、辨识度更高，检测结果直观易懂，便于快速判定缺陷情况
    多类型缺陷 epl-module-05.webp epl-module-06.webp 无探针遮挡干扰，绿框区域各类缺陷全覆盖无遗漏，红框区域断栅缺陷特征突出，多类型缺陷检测精准
    轻微断栅+严重断栅 epl-module-07.webp epl-module-08.webp EPL 对轻微断栅显示更清晰，可检出 EL 无法识别的未完全断路轻微断栅，同时清晰呈现严重断栅缺陷

    配套设备推荐：晶硅/钙钛矿PL/EL一体机、光伏电池检测

Applications

×
Your name *
Your call *
Company name
EMAIL *
What are your requirements

contact

Be the first to know about our new product launches, latest blog posts and more.

势创智能 Nanjing Vision Potential Intelligent Technology Co.,Ltd.Established based on the Nanjing Xiangning Artificial Intelligence Research Institute, we have brought together a number of outstanding industry...

Any question or request?

Click below, we’ll be happy to assist. contact

Copyright © 2012-2023. All Rights reserved

微信二维码 关注

电话 联系

+86 15950489233

[电话 联系](tel:+86 15950489233)

返回顶部 顶部

← BackInquire